Manufacturing Technology Conference (MTC) en Knowledge Sharing Centre bundelen op 16 april 2024 de krachten op het Clean Event. Daardoor ontstaat een centrale kennishub voor productontwikkelaars, designers, engineers en maakindustrie rondom maakbaarheid en contamination control.
Clean Event
“De dynamische wereld van productontwerp en engineering vraagt om een breed begrip van maakbaarheid en reinheidseisen. Er mee rekening houden in het ontwerp gaat verder dan een technische vereiste. Met het bundelen van deze evenementen bieden we een platform voor het vergroten van kennis en het versterken van samenwerking, specifiek gericht op de (toe)leverketen van OEM’s”, aldus Karin Mous, Programmamanager van beide evenementen. “We brengen designers en makers samen om inzichten te delen en zo tot de beste keuzes te komen in het productontwikkelingsproces. Het optimaal gebruikmaken van elkaars capaciteiten, daar draait het bij het Clean Event en de Manufacturing Technology Conference om.”
Contamination control
Hoe krijg je als keten gezamenlijk grip op reinheid en contamination control in het gehele maakproces? Hoe zorg je voor een slim design om het product beter schoon te maken en hoe borg je dat? En hoe verlaag je de grote risico’s in het assemblage- en verpakkingsproces? Deze uitdagingen staan centraal tijdens het Clean Event. Met een inhoudelijk kennisprogramma en expo met 67 exposanten vinden bezoekers hier alle ingrediënten om aan de steeds strengere reinheidseisen te voldoen.
CERN en VDL ETG
De nadruk bij het Clean Event ligt op het inhoudelijk congresprogramma. Dr. Stefano Sgobba, Head of Materials, Metrology en NDT Section bij CERN, trapt het programma af met een keynote waarin hij dieper ingaat op de uitdagingen en innovaties rondom toepassingen van materialen onder hoog vacuümomstandigheden. In de middag biedt Kasper van den Broek, Contamination-controlarchitect bij VDL ETG in zijn keynote voorbeelden uit de halfgeleider- en analytische industrieën om de verschillende fasen van verontreinigingsbeheersing te illustreren. Met concrete toepassingen biedt hij inzicht in de uitdagingen en strategieën om verontreinigingsrisico’s effectief te kunnen beperken.
Quick Reference Card
ASML introduceert tijdens het Clean Event hun Quick Reference Card. Deze kaart visualiseert de verschillende do’s and dont’s om de reinheidseisen te behalen. Met focus op verspanende en -assemblagetechnieken. Na afloop van de lezing van Steffijn de Koning, Cleanliness / Standardization supplier quality engineer bij ASML, ontvangen bezoekers hun eigen exemplaar. In zijn presentatie deelt Steffijn het belang van reinheid en de vereisten. Ook deelt hij hoe ASML door sterkere samenwerking met de toeleverketen deze uitdagingen wil overwinnen.
Studie
In de middag presenteren Dennis de Graaff, Proces Engineer bij Fastmicro, en Paula Vena, Solutions Development Specialist SEM bij Thermo Fisher Scientific, de bevindingen uit een gezamenlijke studie. Ze keken naar de mogelijkheden van het versnellen van de deeltjeskarakterisering in hoogtechnologische industrieën. Zij geven hierbij inzicht in hun innovatieve benadering die de mogelijkheden door het combineren van scatterometrie en SEM-EDX maximaliseert om de analyse van deeltjesverontreiniging te versnellen en te verbeteren. Hun onderzoek toont niet alleen aanzienlijke efficiëntiewinsten maar ook verbeterde kwaliteitscontrole en productiviteit in kritieke processen binnen hoogtechnologische industrieën.
